병렬 처리를 활용한 비전 기반 고속 검사 알고리즘의 개발

Title
병렬 처리를 활용한 비전 기반 고속 검사 알고리즘의 개발
Authors
박은수
Keywords
병렬처리를활용한비전기반고속검사알고리즘의개발
Issue Date
2010
Publisher
인하대학교
Abstract
최근 디지털 카메라 기술의 발전과 보다 높은 해상도를 갖는 비전 어플리케이션의 요구로 인하여 디지털 영상의 크기가 급속도로 증가하고 있다. 비전 기반 검사 시스템에서도 작은 불량까지 검출하여 제품의 신뢰성을 높이고자 고해상도 카메라를 이용하여 대용량 영상 데이터를 획득하며, 여기에 비전 알고리즘을 적용하여 불량을 검출해 내고 있다. 획득한 영상이 점차 대용량 화 됨에 따라 이를 고속으로 처리하기는 것은 검사 시간을 단축시키고 결국 생산량 증가로 이어져
Description
요 약 1 ABSTRACT 2 목 차 3 그림 목차 6 표 목차 8 제 1 장 서 론 9 1.1 연구 배경 및 목적 9 1.2 연구 내용 및 방법 12 제 2 장 병렬 처리 기술 소개 13 2.1 SSE를 이용한 병렬 처리 13 2.1.1 SSE 기술과 XMM 레지스터 14 2.1.2 SSE 프로그램 시 고려 할 점 15 2.1.3 SSE 코딩 기술 17 2.2 OpenMP를 이용한 병렬처리 19 2.2.1 OpenMP의 구성 2
URI
http://dspace.inha.ac.kr/handle/10505/20085
Appears in Collections:
College of Engineering(공과대학) > Computer Engineering (컴퓨터공학) > Theses(컴퓨터정보공학 석박사 학위논문)
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