비전 검사를 위한 PCB 시료의 산란 특성 측정 및 모델링/

Title
비전 검사를 위한 PCB 시료의 산란 특성 측정 및 모델링/
Authors
고낙훈
Issue Date
2009
Publisher
인하대학교
Abstract
PCB 구조가 점차 복잡해짐에 따라 정확한 PCB 결함 검사를 위해서는 PCB 표면의 산란 현상을 정확히 이해하는 것이 필요하게 되었다. 본 연구에서는 PCB 표면으로부터의 광 산란 현상을 실험적으로 연구하고 그 특성을 모델링함으로써, PCB 결함 검사를 위한 자동 광학 검사 (Automatic Optical Inspection)의 정확도 및 효율성을 향상시키고자 하였다. 먼저 Gonio scatterometer를 이용하여 PCB 표면으로부터의 광 산란
Description
1. 서론 = 2 2. 거친 표면의 산란 이론 = 3 2-1. 거친 표면 및 특성 = 3 2-2. Bidirectional Reflectance Distribution Function(BRDF) = 6 2-3. 표면 산란 이론 = 9 2-3-1. Beckmann-Kirchhoff model = 9 2-3-2. Statistical ray method = 13 2-3-3. Physics based model = 18 2-4. 산란 이론의
URI
http://dspace.inha.ac.kr/handle/10505/20069
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College of Engineering(공과대학) > Computer Engineering (컴퓨터공학) > Theses(컴퓨터정보공학 석박사 학위논문)
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