STS강 부동태 피막의 반도체적 특성 평가

Title
STS강 부동태 피막의 반도체적 특성 평가
Authors
이재훈
Keywords
sts강부동태피막의반도체적특성평가
Issue Date
2010
Publisher
인하대학교
Abstract
본 연구에서는 스테인리스강 표면에 형성한 부동태 피막의 반도체적 특성에 관하여 연구하였다. XPS 분석과 depth profile 분석결과로부터 Cr2O3와 Fe2O3가 스테인리스강 부동태 피막을 형성하고 있다는 것을 확인하였다. Cr2O3는 p형 반도체적 특성을 나타내는 물질이며, Fe2O3는 n형 반도체적 특성을 나타내는 물질이다. 따라서 p형 반도체 물질과 n형 반도체 물질이 접촉하고 있는 p-n junction 상태의 구조를 이루고 있다. 이는
Description
Ⅰ. 서 론 1 Ⅱ. 이론적 배경 4 2.1. STS강의 특성 4 2.2. STS강의 반도체적 특성 5 Ⅲ. 실험방법 11 3.1. 시편준비 11 3.2. Zero bias 측정실험 12 3.3. I-V behavior 측정실험 13 3.4. Mott-Schottky 측정실험 13 Ⅳ. 결과 및 고찰 15 4.1. SEM 분석 결과 15 4.2. AFM 분석 결과 16 4.3. XPS 분석 결과 17
URI
http://dspace.inha.ac.kr/handle/10505/14141
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College of Engineering(공과대학) > Chemical Engineering (화학공학) > Theses(화학공학 석박사 학위논문)
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